北京金三航科技发展公司

　目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!

GT2100A数字集成电路多参数测试仪,帮助您解决这类烦恼！

GT2100A 数字集成电路多参数测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。

数字集成电路多参数测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部队、IC经销商使用。

系统的主要特点:

1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。

2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。

3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。

4． 对IC输入电流、功耗电流测试。

5． 输入漏电流及交叉漏电流测试。

6． 测试过程无须人工干预。

7． 用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。

8． 可自动识别74系列中的CMOS器件。

9． 可以查找未知IC的型号。

产品主要性能:

在功能测试的基础上

1. 测试器件的输入端注入电流。

2.测试器件的输入端交叉漏电流。

3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。

4. 测试器件的输出负载电流。

5. 测试器件的功耗电流。

6.查找未知芯片型号。

7. 可以单次测试，也可以循环测试.

8.可自动识别74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。

多值测试参数:

1.8种可选择的测试电源。

2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。

3. 多种测试电压比较值。

4. 功耗测试。

以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。

测试模式:

1.模式O： 全组合参数测试。

2.模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。

3.模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。

4.模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。

5.模式F： 自编程测试。

测试范围及测试品种: 28Pin

1. 54 系列；4500 系列；

2. RAM 256K bit

3.74 系列；40000 系列；

4. EPROM 64K bit

5. 4000 系列；C00 系列。

6.光耦